Расширенный поиск
Найдены 2 записи.
№ | Автор | Заглавие ▼ | Данные | Действия |
---|---|---|---|---|
1. | Тюриков, Александр Валерьевич | Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : диссертация ... кандидата физико-математических наук : 05.11.14, 05.11.13 Количество страниц: 174 с. ил. 61 05-1/439 Электронный ресурс |
Ижевск, 2004 |
описание
загрузить в подборку |
2. | Тюриков, Александр Валерьевич | Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 05.11.14, 05.11.13 / Ин-т прикладной механики УрО РАН Количество страниц: 20 с. 9 04-13/2979-X 9 04-13/2980-3 Электронный ресурс |
Ижевск, 2004 |
описание
загрузить в подборку |