Расширенный поиск
Найдена 1 запись.
№ | Автор | Заглавие | Данные ▲ | Действия |
---|---|---|---|---|
1. | Вълков, Ивелин Цветанов | Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 / С.-Петербург. гос. электротехн. ун-т Количество страниц: 16 с. 9 94-1/2143-1 9 94-1/2144-x Электронный ресурс |
Санкт-Петербург, 1994 |
описание
загрузить в подборку |