Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Турьянский, Александр Георгиевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Рентгеновская рефрактометрия и относительная рефлектометрия слоистых наноструктур : диссертация ... доктора физико-математических наук : 01.04.05 | |
Выходные данные | Москва 2008 | |
Физическое описание | 306 с. ил. | |
Тема | Оптика | |
Хранение | 71 09-1/116; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |