Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Шелковников, Евгений Юрьевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Программно-аппаратные средства и алгоритмическая коррекция погрешностей измерений геометрических параметров наночастиц сканирующим туннельным микроскопом : автореферат дис. ... доктора технических наук : 05.11.16 | |
Выходные данные | Ижевск 2008 | |
Физическое описание | 48 с. | |
Тема | Информационно-измерительные и управляющие системы (по отраслям) | |
Тема | Химические науки -- Коллоидная химия -- Общие и теоретические вопросы -- Методы исследования коллоидных систем -- Сканирующая туннельная микроскопия | |
Тема | Приборостроение -- Детали, узлы и устройства приборов -- Технология приборостроения -- Технология производства оптических деталей и узлов приборов -- Исследование -- Математическое моделирование. Применение ЭВМ | |
Ключевые слова |
ультрадисперсные частицы |
|
Ключевые слова |
цифровой сканирующий туннельный микроскоп |
|
Ключевые слова |
игла микроскопа |
|
Хранение | 9 08-4/2815; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |