Описание
/
Карточка
/
Поля MARC
|
Действия
|
Автор
|
Ермаков, Виктор Анатольевич
|
загрузить
в подборку
|
Заглавие
|
Исследование структурно-химических параметров тонких пленок, наностеклокерамики и многослойных нанографитов методами спектроскопии комбинационного рассеяния света : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.05
|
Выходные данные
|
Санкт-Петербург 2011
|
Физическое описание
|
19 с.
|
Тема
|
Оптика
|
Тема
|
Химическая технология. Химические производства -- Технология неорганических веществ. Технология основных химических продуктов -- Неорганические соединения отдельных металлов -- Химический состав и строение продукции -- Методы исследования, испытания, анализа, контроля -- Спектральные методы
|
Тема
|
Химическая технология. Химические производства -- Технология неорганических веществ. Технология основных химических продуктов -- Силикатные производства -- Стекло и стеклоизделия -- Техническое стекло -- Стеклокристаллические материалы и изделия (ситаллы, пирокерамы) -- Стеклокерамические поликристаллические материалы -- Химический состав и строение продукции -- Методы исследования, испытания, анализа, контроля -- Спектральные методы
|
Тема
|
Химическая технология. Химические производства -- Технология неорганических веществ. Технология основных химических продуктов -- Углерод и его соединения -- Графит -- Химический состав и строение продукции -- Методы исследования, испытания, анализа, контроля -- Спектральные методы
|
Ключевые слова
|
тонкие нанопленки
|
Ключевые слова
|
проводящие нанопленки
|
Ключевые слова
|
пьезоэлектрические нанопленки
|
Ключевые слова
|
наностеклокерамика
|
Ключевые слова
|
углеродные наночастицы
|
Ключевые слова
|
нанографит
|
Ключевые слова
|
материалы для микроэлектроники
|
Ключевые слова
|
материалы для фотоники
|
Хранение
|
9 11-2/2125;
|
Электронный адрес
|
Электронный ресурс
|