Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Николичев, Дмитрий Евгеньевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 01.04.10 | |
Выходные данные | Нижний Новгород 2009 | |
Физическое описание | 19 с. | |
Тема | Физика полупроводников | |
Тема | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела -- Физика полупроводников -- Электрические свойства полупроводников -- Электрические явления при контакте полупроводников с металлами и диэлектриками -- Методы исследования | |
Тема | Радиоэлектроника -- Квантовая электроника. Оптоэлектроника -- Оптоэлектронные приборы -- Материалы -- Материалы с особыми свойствами -- Строение -- Спектральные методы исследований | |
Хранение | 9 09-2/2653; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |