Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Овчаренко, Евгений Николаевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Исследование технологических потерь БИС с применением электрических тестовых структур : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 | |
Выходные данные | Москва 1993 | |
Физическое описание | 24 с. | |
Тема | Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника | |
Хранение | 9 94-1/575-4; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |