Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Вълков, Ивелин Цветанов |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Аппаратура и методы электронно-зондового тестирования интегральных микросхем в режиме вторичной электронной эмиссии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 05.27.01 | |
Выходные данные | Санкт-Петербург 1994 | |
Физическое описание | 16 с. | |
Тема | Твердотельная электроника, микроэлектроника и наноэлектроника | |
Хранение | 9 94-1/2143-1; | |
Хранение | 9 94-1/2144-x; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |