Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Сысоев, Евгений Владимирович |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Измерение микро- и нанорельефа поверхности методами низкокогерентной интерферометрии : автореферат дис. ... кандидата технических наук : 01.04.05 | |
Выходные данные | Новосибирск 2010 | |
Физическое описание | 19 с. | |
Тема | Оптика | |
Тема | Техника и технические науки (в целом) -- Общая технология. Основы промышленного производства -- Отделка поверхности -- Технический контроль -- Физические методы контроля -- Оптические методы | |
Тема | Энергетика -- Ядерная энергетика -- Ядерные реакторы -- Активная зона -- Тепловыделяющие элементы -- Контроль -- Методы -- Интерферометричексие методы | |
Хранение | 9 10-5/1057; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |