Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Тюриков, Александр Валерьевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов : автореферат дис. ... кандидата физико-математических наук : 05.11.14, 05.11.13 | |
Выходные данные | Ижевск 2004 | |
Физическое описание | 20 с. | |
Тема | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Структурный анализ твердых тел | |
Тема | Физико-математические науки -- Физика -- Физика твердого тела. Кристаллография -- Структура твердых тел -- Поверхностные явления в твердых телах | |
Тема | Технология приборостроения | |
Тема | Приборы и методы контроля природной среды, веществ, материалов и изделий | |
Хранение | 9 04-13/2979-X; | |
Хранение | 9 04-13/2980-3; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |