Описание / Карточка / Поля MARC | Действия | |
---|---|---|
Автор | Руднев, Андрей Валерьевич |
загрузить
в подборку |
Заглавие | Статистические модели контроля выхода годных и технологических потерь в производстве СБИС : диссертация ... кандидата технических наук : 05.27.01 | |
Выходные данные | Москва 2003 | |
Физическое описание | 122 с. ил | |
Тема | Радиоаппаратура -- Большие интегральные схемы -- Производство -- Технический контроль -- Методы контроля | |
Тема | Твердотельная электроника, радиоэлектронные компоненты, микро - и наноэлектроника, приборы на квантовых эффектах | |
Хранение | 61 04-5/653-9; | |
Электронный адрес |
Электронный ресурс |